DFT笔记79
📅 2026/7/18 13:36:30
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还需要知道:
- xOE:output enable signal——indicate the arrival of the output data
- D:data input
- Q:data output
我们需要根据xCAS(也就是表8.14的t_CAS)给BIST定一个合适的时钟周期,在这个例子中,表格中对应的t_CAS为10 ns,可以用作一个基础的测试时钟周期(测试时钟不快于100 MHz都是可以选择的)。
有了BIST,我们可以使用简单的logic tester,而不用使用贵贵的memory tester,logic tester更慢而且没那么贵,它能够激活BIST逻辑并且接收到测试结果。
BIST sequencer(是一个timing sequence generator)能够基于时钟周期生成时序信号,它其实就是把时序信号的高低电平信号转换为一些数量的时钟周期,一旦这个转换在BIST设计过程中完成并确定下来,那么EDRAM没有violation of the timing specifications的前提下时钟周期也应该确定了。
在这个例子中,时钟周期(和xCAS period)被假定为20 ns(尽管它可以被减少到接
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