满分：100分 时间：90分钟

一、单选题（每题3分，共30分）

1. 在数字IC的可测试性设计（DFT）中，边界扫描测试通常基于以下哪个标准（ ）
A. IEEE 802.3
B. IEEE 1149.1 (JTAG)
C. IEEE 1394
D. IEEE 1588

答案：B
解析：边界扫描测试（Boundary Scan Test）基于IEEE 1149.1标准，也称为JTAG（Joint Test Action Group）。它通过TAP控制器和边界扫描链，无需物理探针即可测试芯片引脚间的互连状态。DFT与JTAG是佰维存储封装测试岗位的必考基础题。

2. 在NAND Flash中，页（Page）内用于存储ECC校验数据的区域通常称为（ ）
A. Main Area
B. Spare Area / OOB
C. Data Area
D. Control Area

答案：B
解析：NAND Flash每页由主数据区（Data Area）和备用区组成，备用区称为Spare Area或OOB（Out-Of-Band）Area，用于存储ECC校验数据、坏块标记等元数据。NAND Flash页结构是佰维存储面试基础题。