1、背景

针对于大型的SOC芯片，DFT owner往往会采用基于hierarchy的测试架构。从时钟路径上来看，在top和block中均插入了一个OCC，这两个OCC表面上看是处于级联的状态，但是通过合理的信号控制，可以做到这两个OCC同时只会有一个会生效。

当需要测试block中的path时，top的OCC会被bypass掉；而当测试top与block的交互path时，block的OCC会被bypass掉。

接下来就将介绍不同情况下的时钟控制情况。

2、OCC的时钟控制

从测试对象上看，分为top+block的测试和top+graybox的测试；从测试模式上看，分为stuck mode和transition mode；即这里需要考虑四种不同情况下的OCC时钟控制情况：

（1）测试故障点存在于block内部，测试模式为stuck mode；

（2）测试故障点存在于block内部，测试模式为transition mode；

（3）测试故障点存在于top以及top与block交互处，测试模式为stuck mode；

（4）测试故障点存在于top以及top与block交互处，测试模式为transition mode；

2.1 测试故障点存在于block内部，测试模式为stuck mode

2.2 测试故障点存在于block内部，测试模式为transition mode

2.3 测试故障点存在于top以及top与block交互处，测试模式为stuck mode

2.4 测试故障点存在于top以及top与block交互处，测试模式为transition mode